(资料图)
基本信息
- MCU：STM32F105R8T6
- 库：HAL
- 平台：MDK
- 精度：12位
问题一
现象：在测量的时候，发现采样值在 1023 ~ 1042 和 1279 ~ 1290 两个区间之间无法测量
原因：一开始还以为是我计算方式不对，折腾了很久才发现是采样导致的，发现这个现象后，有两个猜测可能一：怀疑是放大电路的问题，出现了这样的死区，导致 MCU 无法测量
测试方法：用万用表测量放大后的信号是有变化的，并没有这样的死区存在，说明也不是放大电路的问题
可能二：怀疑是 MCU 的 ADC 通道损坏导致无法采集
测试方法：使用了多个 MCU 测量也是同样的现象，基本可以排除 MCU 的 ADC 通道损坏的可能，为了排除程序功能之间的影响，使用了单独的 ADC 采样 DEMO 程序测量时，居然没有这样的现象，到这里基本可以确定了是程序的问题，经过对比程序，最后发现是 ADC 时钟没有配置，绝望了。
解决办法：只需要配置 ADC 采集通道的时钟即可，程序如下所示：
问题二
现象：通过采样值计算出的电压与时间的电压有 40MV 的差距
原因：未知
解决办法：增加 ADC 通道校准，程序如下
/* 校准ADC */HAL_ADCEx_Calibration_Start();
